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如何提高二次元测量仪的测量精度
发布时间:2020-04-14   点击次数:316次
  如何提高角度测量精度,一直以来是二次元测量仪器难以攻克的难关。现在市场上流行的二次元测量仪器关于角度测量的方法基本有两种,一种是切线法,一种是采点计算法。切线法是指人工旋转屏幕上或者镜头内刻线,分别对准工件两条边线,通过编码器或者圆光栅计数来测量角度的方法。这种方法又分为两种,投影切线法,如投影仪,工具显微镜等,和影像切线法,如影像仪,带视频功能的工具显微镜,依靠软件自带的米字线旋转测量。
  切线法操作方便简单,但是测量精读低,适合快速批量检测,如果被测件角度精读要求较高,另一种方法,采点计算法就比较适合。所有的几何元素都是有点组成的,包括基本元素直线,曲线和圆弧。二维平面角度由基本几何元素两条直线组成,直线由无数的点组成。所以角度测量准确与否,采点是最关键的。
  二次元影像测量仪,由于屏幕显示有限,加上放大倍率较大(一般在0.7档~4.5档34X~220X),屏幕显示部分的工件尺寸实际只有几毫米,很多测量人员在检测的时候习惯只在屏幕显示部分上采集点、线元素。如果采集的点有偏差,所采线段越短,那么所测得的角度值偏差就会越大,线段越长,测得角度值偏差就会越小。所以我们在测量角度的时候,尽量将角度两边的线采集长些,如果屏幕显示范围太小,可以移动工作台,在角度所在直线的起点位置附件采一点,然后在终点位置采一点,这样所测角度误差将会大大减小。

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